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Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心測試系統(tǒng)致茂測試系統(tǒng)3270致茂Chroma 3270微型 IC 測試分類機(jī)
致茂Chroma 3270微型 IC 測試分類機(jī)適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求可靠的高速 Pick&Place 分類機(jī)3x3 mm 微型 IC 處理能力浮動(dòng)頭可有效率平衡測試壓力自動(dòng)測試壓力學(xué)習(xí)IC 殘留檢測功能
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致茂Chroma 3270微型 IC 測試分類機(jī)
主要特色:
Chroma 3270 是一款創(chuàng)新的微型 IC 測試分類機(jī),特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需,Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術(shù),可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動(dòng)到測試位置,然后將測試后產(chǎn)品置于適當(dāng)之 Tray 盤。
Chroma 3270 能同時(shí)處理32個(gè)待測物進(jìn)行平行測試,并提供50?C~125?C高溫測試選擇。不但能提高產(chǎn)量,提升生產(chǎn)良率,同時(shí)大幅降低測試成本。
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Model | Description | 詢價(jià) |
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3270 | 微型 IC 測試分類機(jī) | |
致茂Chroma 3270微型 IC 測試分類機(jī)