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泰克TAP1500低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇,這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 (~1 pF) 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。
泰克P6245低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇,這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 (~1 pF) 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。
泰克P6243低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇,這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 (~1 pF) 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。
泰克P6015A高壓單端探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于40 kV以地參考的信號。但是,某些單端探頭設計用于隔離或浮動輸入的儀器,進行非以地參考的測量.用戶應選擇較低輸入電容指標(<4PF)的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響,因為輸入電容較低的探頭能在更高頻率上提供更高的輸入阻抗。
泰克TPP0850高壓單端探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于40 kV以地參考的信號。但是,某些單端探頭設計用于隔離或浮動輸入的儀器,進行非以地參考的測量.用戶應選擇較低輸入電容指標(<4PF)的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負載影響,因為輸入電容較低的探頭能在更高頻率上提供更高的輸入阻抗。